您的位置：網站首頁 > 產品中心 > 材料分析儀器 > 介電常數(shù)測試儀 > HD-JD1薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀

薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀

薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

產品品牌：霍爾德?電子

價格：我要詢價

廠商性質：生產廠家

產品時間： 2025-06-20

在線留言在線交流

產品概述

介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業(yè)儀器，主要應用于以下領域：

1.科研機構——用于新型電介質材料的性能分析與理論研究，為材料科學領域的創(chuàng)新提供實驗依據(jù)；

2.高等院?！鳛榻虒W與科研的重要設備，支撐材料學、物理學、電子工程等學科的實驗研究；

3.工業(yè)企業(yè)——用于無機非金屬材料（如陶瓷、玻璃、高分子復合材料等）的質量控制與性能優(yōu)化，指導產品開發(fā)與工藝改進。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領域具有廣泛的應用價值，為新型功能材料的研發(fā)與產業(yè)化提供關鍵測試手段。

薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀

薄膜介質損耗儀介電常數(shù)測試儀參考標準

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法。

技術參數(shù)

1	信號源	DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz
2	采樣精度	11BIT
3	測量范圍	1-1000自動/手動量程
4	分辨率	0.1
5	測量工作誤差	<5%
6	電感測量范圍	分辨率0.1nH
7	電感測量誤差	<3%
8	調諧電容	主電容30-540pF
9	電容直接測量范圍	1pF～2.5uF
10	調諧電容誤差	±1 pF或<1% 0.1pF
11	諧振點搜索	自動掃描
12	合格預置范圍	5-1000聲光提示
13	LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等
14	介質損耗系數(shù)精度	萬分之一
15	介電常數(shù)精度	千分之一
16	材料測試厚度	0.1mm-10mm
17	技術	儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數(shù)顯微測量裝置，直接讀值。